Tektronix公司宣布数组高速模式生成器和报错器支持光学和串行数据测试新建PPG3000系列生成器和PED3000系列比特错误检测器多通道模式生成
PPG3000Series等一致性光调格式测试可与TektronixOM4000Series同步使用,以便光学设计师实时优化和验证一致性调制格式
PED3000Series可合并PPG3000提供32Gb/sBER分析并多道支持快速识别多段数据通信架构常见交互问题设计师可模拟4x28G测试台测试接收器设计32Gb/s数据速率输出并可调整Qitter插入使设计公司能够以行业最优差能力将产品带入市场,提高产值和终端产品或芯片性能
多渠道模式生成
PPG3000序列共由六大模型组成,包括30Gb/s或32Gb/s速度模型和一、二或四通道模型有了同步和相位可调输出量和PRBS或用户定义模式生成量等特征,这些工具提供解决各种设计问题(包括交互聊天问题)所需的灵活性随着速度提高和多段配置如100GEthernet成为常见点,交叉聊天成为设计上的一大挑战
多通道BER测试
PED3000串误差检测器可用一或二道综合测试多道标准,如100GEthernet工具将极灵敏度(turmV测量 30Gb/s)和行业最广数据范围从32Mb/s到32Gb/s不等。错误校验函数包括PRBS或用户定义模式、DC组合差分数据输入、单时钟输入和自动对齐输入模式
文件基础:测试度量提示
