SAPHIE调位测试站设计为精确可重复力和移位测量各种触摸开关和开关组件
Sapphire单机测试并显示LCD触屏显示完全测量报表可上传到网络或USB驱动器
sapphire测试金属圆点、多圆点、膜开关和大多数其他开关测试站符合ASTM标准F2592测试包括绊脚石、回力、站立自由高度、移位(旅行)、触摸比、触动斜坡、开关阻力和其他ASTM测量它可以检测二分电触点,并可用于描述阻触屏特征
度量特力、回力、自由高度、移位、触动斜坡和阻抗
测试各种机械开关和开关组件,并可用于描述电阻触屏
兼容ASTM标准F2592
访问报告通过网络或USB闪存盘
直觉触屏显示易操作和结果
双阻路测量多电触点
压缩设计便携式
可调整测试头广度产品高度
• 自定义规范可用
美国设计制作
文件基础:测试+测量器
