REDO五轴测量系统的Renishaw的SFP1探针选项允许将表面完成检查完全集成到坐标测量例程中。
SFP1表面探针具有6.3至0.05 RA的测量能力，使CMM成为“单个平台”计量系统。它消除了需要手持式表面测量设备或将零件运输到专用地面测量机，减少人工成本和检查交货时间。该系统允许在尺寸测量和表面饰面测量之间进行自动切换，并在单个报告中包含分析。
SFP1探针是Revo 5轴测量系统的完全集成的选项，该系统配备了两个专用的Styli，这是笔直和曲柄，它们是使用系统的模块化机架系统（MRS）通过测量程序控制选择的。探针结合了一个C轴，结合了revo头的无限定位和手写笔持有者的选择，允许将探针尖端自动定向至任何角度以适合零件，从而确保获得最高质量的表面数据。这可以灵活访问组件功能，并结合全自动CNC控制的一致性。使用笔直的手写笔，SFP1可以在直径10 mm的孔内执行测量轨迹，深度为100 mm。
使用I ++ DME协议，通过Renishaw的UCCSERVER软件，具有2 µm（0.000079英寸）半径钻石手写笔尖端的探针，SFP1探针输出RA，RMS和原始数据格式通过Renishaw的UCCServer软件。随后可以将原始数据显示给专门的表面分析软件，以进行更详细的报告。点击有关Renishaw的CMM探针系统，软件或CMM Ratrofit服务的更多信息
自动表面表面探针校准
在CMM程序下，探针的校准也是自动化的。将表面校准伪像（SFA）安装在MRS机架上，并使用SFP1探针进行测量。然后，软件按照工件的校准值调整探针内的参数。
帖子Renishaw引入了CMM的表面饰面测量首先出现测试和测量技巧。
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