数字仪器提供智能半导体测试系统开发所需的硬件和软件功能。
NI公布了NI PXIe-6570数字图形仪和NI数字图形编辑器。该产品使rfic、电源管理ic、MEMS器件和混合信号ic制造商从传统半导体自动化测试设备的封闭架构中解放出来。
最新的半导体器件的要求往往超过传统ATE提供的测试覆盖范围。通过将在半导体测试系统中使用的开放PXI平台引入半导体行业建立的数字测试范式，并通过强大的和用户友好的模式编辑器和调试器来推进它，客户可以利用尖端的PXI仪器来帮助降低RF和模拟中心ic的测试成本和增加吞吐量。
NI半导体测试副总裁Ron Wolfe表示:“PXI数字图形仪器是STS的一个重要补充，因为它为半导体工程师提供了所有的数字能力，否则他们只能在高端数字测试平台中找到。”“有了PXI在生产车间的这种能力，他们可以满足尖端设备的价格点和测试要求，同时很容易扩展到他们目录的其他部分。”
NI PXIe-6570数字图形仪器以经济的价格为无线设备供应链和物联网设备中常见的ic提供所需的测试能力。它具有100 MVector每秒模式执行独立的源和捕获引擎和电压/电流参数功能，在单个子系统中多达256个同步数字引脚。用户可以利用PXI和STS的开放性来添加尽可能多或少的设备，以满足测试配置中所需的设备引脚和站点数。
新的数字模式编辑器软件集成了设备引脚图、规格和模式的编辑环境，以更快地开发测试计划;内置多站点、多仪器模式爆发等工具，实现从开发到生产的无缝扩展;像shmoo绘图和交互式引脚视图这样的工具可以更有效地调试和优化测试。
使用相同的PXI硬件和TestStand进行表征和生产测试，LabVIEW和Digital Pattern Editor软件减少了数据相关性的工作，可以帮助用户减少上市时间。无论是在STS配置的内部还是外部，占用空间小的PXI硬件都节省了生产车间的空间，并且可以在表征实验室的标准墙壁电源上运行。
Wolfe继续说:“PXI已经证明了自己是一种罕见的软硬件结合，可以成功地在生产车间和表征实验室中进行操作。”NI数字图形仪器和数字图形编辑器代表了重要的创新，以帮助设备制造商和测试机构降低测试成本，并改善测试程序开发。”
除了可生产的STS系列，1ghz带宽矢量信号收发器，fa级源测量单元和TestStand半导体模块，这些系统受益于从DC到mmWave的600多种PXI产品。它们的特点是使用PCI Express Gen 3总线接口的高吞吐量数据移动和集成定时和触发的亚纳秒同步。用户可以利用LabVIEW和TestStand软件环境的生产力，以及一个充满活力的生态系统的合作伙伴，附加IP和应用工程师，以降低测试成本，减少上市时间和未来的测试，为未来具有挑战性的RF和混合信号测试需求。
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