Mitutoyo America Corporation宣布发布新的快速Vision®WLI视觉测量机。除了光视头，快速Vision®WLI还采用了一个白光干涉仪（WLI）头。这些头部在一起实现了非接触式视觉的高精度性能以及单机中的高纵横比例（Z = Subμm〜100μm）功能的高精度性能 - 消除了从一种类型移动工件的需要机器到另一个。
结果,快速视觉®WLI为非接触式测量提供了大大提高吞吐量的物品结合2 d和分钟形成3 d功能在一个工件-例受试者可能包括IC芯片和包,混合动力底盘、铅帧,和许多类型的精密加工和成型零件。
快速Vision®WLI干涉仪头部分为两个白光束;一个光束朝向参考镜子，另一个光束进入工件。当参考目标沿Z轴移动时，在焦点上观察到白色“干涉环”;对该环的分析使得可以确定在观察中的特征的3D形状。
Quick Vision®WLI使用Mitutoyo FORMPAK-QV/FORMTRACEPAK-PRO软件进行2D/3D表单评估，该软件具有精致、直观的GUI。结果可以2D/3D图形显示，便于解释;各种编辑和控制工具是标准的。
In addition, new Quick Vision® WLI 2D/3D non-contact measuring machines can support output to measurement data applications such as MeasurLink®, Mitutoyo’s proprietary statistical-processing and process-control program which performs statistical analysis and provides real-time display of measurement results for SPC applications. The program can also be linked to a higher-level network environment for enterprise-wide functionality.
Mitutoyo America Corporation
www.mitutoyo.com.
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