Keysight Technologies, Inc.宣布了一种新的用于射频功率放大器(PA)表征和测试的PXI参考解决方案。参考解决方案可执行s参数、谐波失真、功率和解调测量，可实现对下一代功率放大器模块(如功率放大器-双工器(PAD))的快速、全面表征。参考解决方案为高通量和高精度测量质量进行了优化。它是唯一一个占地面积小、特性全面的解决方案，用于射频功率放大器的设计验证和产品测试，以及功率放大器周围的所有无源器件，如滤波器和双工器。
参考解决方案中稳健的数字预失真(DPD)算法是建立在与无线制造客户多年密切合作的基础上的，以及从Keysight的SystemVue仿真和N7614B Signal Studio用于功率放大器测试软件应用中获得的见解。这使得它成为唯一能够为下一代功率放大器模块提供从模拟到制造的一致测量的解决方案。
经过验证的DPD算法，具有查找表(LUT)和内存多项式能力，补充了解决方案的包络跟踪(ET)测试能力。该解决方案包括快速波形下载、紧密同步和自动校准，这对ET测试至关重要。参考解决方案支持多个供应商，如Signadyne SD AOU-H3353单槽、高速PXIe AWG，并实现业界最快的封装生成，同时减少测试占用空间。
“Keysight在RF解决方案中卓越的组合和Signadyne在高速发电机中的专业知识导致了开发了一个全面的测试解决方案，为RF功率放大器行业提供了优异的价值，”Signadyne首席执行官Marc Almendros表示。
“我们为RF功率放大器的表征和测试创建了PXI参考解决方案，因为客户告诉我们Pad型器件的全面表征对其成功至关重要，”Keysight的软件和模块化解决方案部门营销经理Mario Narduzzi表示。“经过验证，强大的数字预失真算法，具有开放和闭环测量，提供行业中任何PA表征测试解决方案的最佳性能。”
新型M937XA PXIE矢量网络分析仪和M9393A PXIE性能VSA，使客户需要的完整表征，包括关键的高密度，高速S参数测量和高速谐波失真测试，最高可达27 GHz。
参考解决方案的开放源码示例代码针对PA特性进行了优化。它的设计有助于快速评估测试配置，减少首次测量的时间。有了这些新功能，工程师可以通过DPD和ET提高设备性能;在设备复杂性和测试需求增加的情况下，降低设备尺寸和成本;在pad类型的设备中集成更多的功能;并减少用于测试多个或复杂设备的测试站的尺寸。
Keysight的模块化产品和参考解决方案从公司可信的测量科学和校准程序中受益匪浅。这允许客户从R＆D通过生产的一致测量结果，并实现加速设计循环时间。
垫是更普遍的传统功率放大器架构的替代方案，因为随着较低的功耗和更高的效率和价值，它们允许设备设计人员通过用单个紧凑的模块更换多个离散的组件来节省和优化空间。由于由于新的LTE网络的实现而增加了频带计数的趋势，垫也与设备设计师的普及迅速增加。
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