Mitutoyo美国公司宣布发布新的Quick Vision®WLI视觉测量机。除了光学视觉头，Quick vision®WLI还包含白光干涉仪(WLI)头。这些头可以实现高精度的非接触视觉性能，并在一台机器上实现高长径比分形(Z = Sub -µm ~ 100µm)功能的非接触3D测量，消除了将工件从一种类型的机器移动到另一种机器的需要。
结果,快速视觉®WLI为非接触式测量提供了大大提高吞吐量的物品结合2 d和分钟形成3 d功能在一个工件-例受试者可能包括IC芯片和包,混合动力底盘、铅帧,和许多类型的精密加工和成型零件。
快速Vision®WLI干涉仪头部分为两个白光束;一个光束朝向参考镜子，另一个光束进入工件。当参考目标沿Z轴移动时，在焦点上观察到白色“干涉环”;对该环的分析使得可以确定在观察中的特征的3D形状。
Quick Vision®WLI使用Mitutoyo FORMPAK-QV/FORMTRACEPAK-PRO软件进行2D/3D表单评估，该软件具有精致、直观的GUI。结果可以2D/3D图形显示，便于解释;各种编辑和控制工具是标准的。
In addition, new Quick Vision® WLI 2D/3D non-contact measuring machines can support output to measurement data applications such as MeasurLink®, Mitutoyo’s proprietary statistical-processing and process-control program which performs statistical analysis and provides real-time display of measurement results for SPC applications. The program can also be linked to a higher-level network environment for enterprise-wide functionality.
Mitutoyo America Corporation
www.mitutoyo.com.
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