倪(纳斯达克:NATI）宣布NI半导体测试系统（STS）系列。基于PXI的自动化测试系统通过在半导体生产测试环境中的NI和Industry Roversed PXI模块开放访问，降低RF和混合信号设备的测试成本。与传统的半导体自动化测试设备相比（ATE），STS引导用户正在遇到降低的生产成本和增加的吞吐量，现在可以使用相同的硬件和软件工具进行表征和生产。这将数据相关时间和时间降低到市场。
英飞凌科技汽车车身动力产品高级设计和应用工程师Hans-Peter Kreuter博士表示:“随着集成电路的复杂性呈指数级增长，为从设计验证到生产线末端生产测试的应用提供最佳测试覆盖范围的低成本ATE越来越重要。”“在混合信号测试中，基于pxi的STS以极低的成本实现了最优测试覆盖，其性能优于传统的ATE。”
STS的开放、模块化架构使工程师能够使用尖端的PXI仪器，而不像传统的ATE的封闭架构。这对于射频和混合信号测试尤其重要，因为最新半导体技术的要求往往超过传统ATE提供的测试覆盖范围。由TestStand测试管理软件和LabVIEW系统设计软件提供支持，STS为半导体生产环境提供了一套丰富的功能，包括可定制的操作员界面、处理器/探测器集成、带引脚通道映射的以设备为中心的编程、标准测试数据格式报告和集成的多站点支持。有了这些特性，工程师就可以快速开发、调试和部署测试程序，缩短了将程序推向市场的总体时间。此外，STS具有完全封闭的“零足迹”测试头，标准接口和对接机制，可以集成到半导体生产测试单元中。
“传统系统需要大吃昂贵的重组努力测试地板上一代又一代的测试系统过时或无法满足新的测试要求,但开放的性质PXI STS的架构帮助我们保留我们最初的投资和建设,而不是把它扔掉,”格伦同行说,集成器件技术(IDT)测试主任。“它提供了我们需要的灵活性，以重新配置和发展我们的测试平台，同时满足我们不断增长的性能需求。”
STS系列包括T1、T2和T4三种不同的型号，分别容纳一个、两个和四个PXI底盘。这些不同的尺寸，以及所有STS模型上的通用软件、仪器和互连机制，使工程师能够针对广泛的引脚计数和站点计数需求进行优化。此外，STS的可扩展性使得从特性到生产的部署变得可行，这不仅有利于优化成本，而且大大简化了数据相关性，进一步缩短了上市时间。
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帖子用于RF的ATS，混合信号设备使用基于PXI的方法首先出现了测试和测量提示．
了下:测试和测量提示
